Производитель: Oxford Diffraction, Великобритания (Год выпуска: 2005)

Анализ структуры монокристальных образцов, установление структуры молекулярных соединений в монокристаллах. Прибор смонтирован на базе гониометра с каппа-геометрией, оборудован рентгеновской оптикой для сменных Mo K или Cu K источников рентгеновского излучения (мощность источника - до 2 кВт), CCD-детектором. Низкотемпературная приставка обеспечивает работу в диапазоне температур 100-295 К. Объём исследуемого образца 0.150-0.005 мм³.